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光胶原子模型设计富锡金锡合金焊料微观结构和显微组织研究
摘要:采用光胶原子模型设计了新型富锡金锡合金焊料,系统地研究了Au-Sn合金焊料的显微组织、熔化特性、润湿性和力学性能。[Sn11Au2]Sn3族的合金是以Sn为核心的Sn11Au2族加上3个Sn胶原子得到的,用来取代银镍铜合金。[Sn11AuAg]Sn3 和 [Sn11Au0.5Ag1.5]Sn3合金焊料接近共晶体成分,具有很窄的熔化区间206.89–207.25℃,Sn-Au-Ni是非共晶体,具有很宽的熔化温度区间215.33–255.44℃,这是由于Ni和Au的化学性能之间存在巨大的差异。Sn-Au-Ag合金焊料的beta;-Sn基体中分布着AuSn4相和Ag3Sn相。Ni基Sn-Au-Ag焊料在Ni基体上的润湿性优于在Cu基体上的,这是因为在Cu表面会发生剧烈的界面反应。[Sn11Au0.5Ag1.5]Sn3和[Sn11Au0.5Ni1.5]Sn3合金焊料的抗剪切强度分别为50.59 MPa和36.28 MPa,明显比共晶Sn-Au焊料的要高。
- 引言
在电子封装中,焊点主要具有三个功能:机械支撑,散热和电连接。Au-30wt%Sn是共晶温度为278℃的共晶合金,是用于光电封装和高功率发光二极管(LED)芯片封装的最普遍的无铅焊料之一。其在焊接过程中的高抗氧化性,优异的导热性和高强度,使其适用于无焊剂焊接和高可靠性互连。
然而,Au-30wt%Sn合金是富含Au的共晶焊料,成本高,塑性变形性能差[1]。最近,应用于富含Sn的 Au-Sn焊料的研究引起了研究者极大的兴趣。Ishii等人[2],研究了通过回流Sn和Au多层金属膜制造的晶片上的95wt%Sn-5wt%Au微焊点。Kim等人[3],研究了使用富含Sn的 97.2wt%Sn-2.8wt%Au双层结构,可用于无助熔剂晶片接合。Fang等人[4]报道,富含Sn的70wt%Sn-30wt%Au,其被应用于具有15MPa低剪切强度的高端MEMS器件的晶片级气密封装。Chidambaram等人[5]报道,通过相平衡计算设计的两种三元合金Sn-29wt%Au-8wt%Ag和Sn-29wt%Au-8wt%Cu,其微观结构和硬度的变化与Ag和Cu的合金化有关。
然而,富含Sn的Au-Sn合金仍然存在许多缺点,例如抗氧化性和润湿性差,剪切强度低,会在焊点中形成空隙。此外,在Sn-29wt%Au-8wt%Ag和Sn-29wt%Au-8wt%Cu焊料中会形成大量的脆性AuSn2金属间化合物(IMC),是在Au-Sn IMC(zeta;,Au5Sn,AuSn和AuSn4)中硬度最强的一个。因此,这些焊料的塑性变形性能降低,这对于新的富含Sn的Au-Sn合金来说是不好的。所以设计新的富含Sn的Au-Sn合金是研究者的兴趣所在。
如今,基于簇的材料设计是开发新材料的有效方法[6]。广泛接受的是,在过冷液体中存在各种短程顺序和中程顺序,并且这些原子簇与热稳定性和结晶行为有强相关性[7]。Liu等人[8]研究了结晶期间主相和原子簇之间的相关性,并指出主相与短程顺序相关。Dong等人 [9,10]最近提出了一种聚集加胶原子(CPGA)模型来分析晶体结构和设计多组分合金的组成。该模型将合金结构分解为两部分:簇部分和胶原子部分,其以[簇](胶原子)1,3表示,其中1或3表示与一个簇匹配的胶原子的数量。簇是最近邻的配位多面体,通常在具有负混合焓(Delta;Hlt;0)的元素中形成,而胶原子是与基本元素具有弱Delta;H的那些元素。在本工作中,使用簇加胶原子(CPGA)模型设计了新的富含Sn的Sn-Au-Ag和Sn-Au-Ni焊料,并且深入研究了富Sn的Au-Sn焊料的Cu和Ni基体的微观结构,熔融行为,界面反应和润湿性,以及焊接接头的剪切强度。
3.实验方法
为了设计制备Sn-Au-Ag and Sn-Au-Ni合金焊料,在真空度为1times;10-3Pa的条件下用石英管称取高纯度的Sn (99.99 wt%), Au (99.99 wt%), Ag (99.99 wt%)和Ni (99.99 wt%)并密封。石英管中的混合物先加热到900℃并保温24小时,然后放入水中淬冷获得所需的铸锭。
使用差示扫描量热计(DSC)在N2气氛中对焊料合金的熔化特性进行测试。温度范围在50℃和350℃之间,同时加热和冷却速率均为10℃/min。采用铺展法测试焊料在Cu和Ni基体上的润湿性。Cu和Ni基板先在质量分数为10%的NaOH中碱洗,然后用体积分数为10% HCl溶液除去表面杂质和氧化物,最后在用去离子水和乙醇超声清洗。在直径1毫米的焊球被放置在基板上,然后在高于液相线30℃的温度下保温120秒,测试覆盖和回流的量。使用PS图象处理软件软件计算了湿润地区的焊球上,将5个数据的平均值作为最终结果。
用尺寸为50mmtimes;10mmtimes;1mm的Cu和Ni基板制备焊点,两个基板之间的焊料的厚度为0.5mm。采用SHIMADZU液压伺服系统测试焊点的抗剪切强度,剪切速率设为0.3mm/min,相应的剪切应变率为10-2/s。用SEM和EDS观察焊点的显微组织结构。
图1 衍生自AuSn4的晶体结构的簇:(a)以Sn为中心的Sn11Au2,(b)以Au为中心的AuSn8。 |
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表1设计的Sn-Au-Ag(Ni)焊料的组成 |
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图2.Sn-Au-Ag(Ni)焊料的DSC曲线(a)加热曲线(b)冷却曲线。 |
3.1富含锡的锡金合金的设计
根据CPGA模型,关键步骤是通过分析相对晶体结构来选择主二元簇,其通常是紧密堆积的最近邻配位多面体,并且在三元合金中具有大的负焓变。在Sn-Au-Ag和Sn-Au-Ni体系中,Sn-Au,Sn-Ag和Sn-Ni的焓变分别为-10kJ / mol,-3kJ / mol和-4kJ / mol。Sn-Au的最大的负焓变,表明Sn-Au二元簇的优先级。由于局部簇结构类似于竞争结晶相,重点是在富锡角中AuSn4相的局部结构。对于AuSn4的晶体结构,存在两种类型的簇:一种以Sn原子为中心,即Sn11Au2(配位数为12,即CN12),另一种以Au原子为中心,即Sn8Au配位数为8,即CN8),如图6所示。与CN8 Sn8Au簇相比,CN12 Sn11Au2簇是更紧密堆积的,因为其原子堆积效率为1.019,更接近于理想值0.902。虽然CN8 Sn8Au簇的原子堆积效率为0.895,这远远不及理想值0.617 。因此,选择Sn11Au2簇作为Sn富集角中的主团簇是合理的。由于CPGA模型中胶原子的数目通常为1或3,所以选择[Sn11Au2] Sn3的富Sn簇式。此外,Au,Ag和Ni元素具有相似的电负性,并且它们在高温下的相互溶解度也很大。因此,在[Sn11Au2] Sn3簇中的Au原子上取代Ag原子和Ni原子是合理的。所设计的Sn-Au-Ag(Ni)焊料的组成列于表1中,即[Sn11Au2xAgx] Sn3(x = 1,1.5)和[Sn11Au2xNix] Sn3(x = 1,1.5)。
3.2 Sn-Au-Ag(Ni)焊料的熔化行为
图2显示了所设计的Sn-Au-Ag(Ni)焊料的DSC曲线。 [Sn11Au2 xAgx] Sn3(x = 1,1.5)焊料的DSC曲线显示,每种焊料在加热曲线上具有单个吸热峰,在冷却曲线上具有单个放热峰,表明这些焊料合金是近共晶体。 [Sn11AuAg] Sn3和[Sn11Au0.5Ag1.5] Sn3焊料的熔融温度分别为206.89℃和207.25℃。根据Sn-Au-Ag三元相图[15],这些吸热峰对应于共晶反应。
Lharr;Ag3Sn11AuSn4 beta;-Sn (1)
[Sn11Au2xNix] Sn3(x = 1,1.5)焊料的DSC曲线显示,每种焊料在加热曲线上具有双吸热峰,在冷却曲线上具有双放热峰。 [Sn11AuNi] Sn3和[Sn11Au0.5Ni1.5] Sn3焊料的熔融温度分别为215.67℃和215.33℃。Liu等研究了Sn-Au-Ni三元相图,并指出两个吸热峰分别对应于以下反应。
Lharr;Ni3Sn4 AuSn4 beta;-Sn (2)
Lharr;Ni3Sn4 (3)
由于Ag和Au在周期表中处于相同的族,Ag具有与Ni相比与Ni更相似的化学性质,表明[Sn11Au2xAgx] Sn3簇应该比[Sn11Au2xNix] Sn3簇更稳定。因此,[Sn 11 Au 2 x Ni x] Sn 3簇随着温度的降低更容易分解,因此具有差的热稳定性,这可能是在Sn-Au-Ni合金的DSC曲线上存在双峰的原因。
3.3铸态锡-金-镍化银焊料的微观结构
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